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摘要:
以某国产200 mm(8英寸)砂轮划片机光学系统为例,以CCD为检测物并以国外进口同级别设备光学图像为参考标准.通过与进口设备对比,分析环形光源对成像的影响因素,研究应用几何光学原理,实现成像质量的提高.
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文献信息
篇名 光学系统中环形光源对半导体成像影响研究
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 环形光源 划片机 图像
年,卷(期) 2015,(9) 所属期刊栏目 先进封装技术与设备
研究方向 页码范围 19-21,52
页数 4页 分类号 TN305
字数 1168字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王宏智 6 19 3.0 4.0
2 岳芸 4 4 1.0 1.0
3 王兵锋 4 11 2.0 3.0
4 季峥 3 9 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
环形光源
划片机
图像
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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