恒定失效率假设下的电子产品可靠性验证试验

• 作者: 郑俊钦
• 来源期刊: 海峡科学
• 关键词: 失效规律 可靠性验证试验 电子产品
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 工程技术
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 字数: 3891字
• 语种: 中文

摘要

该文介绍电子产品的失效规律及可靠性验证试验,并根据标准GB5080.7-86《设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案》,以实例说明电子产品在恒定失效率假设下的可靠性验证试验方法.从身处检测一线的工作人员视角,坚持理论与实践相结合,深入浅出,简繁有序,以实例阐述说明理论,简明易懂.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑俊钦		4	5	2.0	2.0