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摘要:
采用基于半导体漂移扩散模型的数值模拟软件对高功率微波(HPM)作用下金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的响应进行了数值模拟研究.对MOSFET在HPM作用下的输出特性以及器件内部响应进行了数值模拟.计算结果表明,在MOSFET栅极加载HPM后,随着注入HPM幅值的增大,会使得器件的正向电压小于开启电压,从而使得输出电流的波形发生形变.在器件内部,导电沟道靠近源极一端的电场强度最大,热量产生集中在这一区域.在脉冲正半周期时,温度峰值位于沟道源极一端,负半周期时,器件内部几乎没有电流,器件内的温度峰值在热扩散效应的影响下趋向于导电沟道中部.
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175℃功率MOSFET场效应管在核磁共振功放电路中的应用
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全桥功放
耗散功率
结温
175℃失效率
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 高功率微波作用下金属氧化物半导体场效应管响应
来源期刊 强激光与粒子束 学科 物理学
关键词 高功率微波 金属氧化物半导体场效应管 半导体
年,卷(期) 2015,(10) 所属期刊栏目 武器装备电子学系统复杂电磁环境效应机理
研究方向 页码范围 210-215
页数 6页 分类号 O411.3
字数 4126字 语种 中文
DOI 10.11884/HPLPB201527.103242
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谢海燕 10 58 3.0 7.0
2 杨志强 14 84 4.0 9.0
3 李勇 12 49 3.0 6.0
4 宣春 9 77 3.0 8.0
5 夏洪富 8 58 3.0 7.0
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高功率微波
金属氧化物半导体场效应管
半导体
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
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