电子器件关键寿命参数获取及性能退化研究

• 作者: 李志刚 王博然 王嘉
• 来源期刊: 电源技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子器件 退化 神经网络 主成分分析
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 新产品新技术
• 页码范围: 810-814
• 页数: 5页
• 分类号: TM315
• 字数: 3976字
• 语种: 中文

摘要

研究电子器件生命特征、生命信息与潜在缺陷及寿命的相关性，依赖于其生命信息可靠寿命的预测方法。根据电子器件多参数多采样点组成的序列信息矩阵来研究其性能退化规律，其中涉及数据繁多，需进行压缩。结合神经网络，对包含电子器件序列信息的采样本点进行多方式选取，通过比较所得误差来最终确定采样点的选取方法；采用主成分分析法对继电器序列信息矩阵的列向量进行处理，提取出关键性能参数；构造适合的价值函数以获取描述电子器件性能可靠程度的特征量，对电子器件性能退化进行研究。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志刚	河北工业大学电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室	150	975	15.0	22.0
2	王嘉	河北工业大学电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室	3	2	1.0	1.0