数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

• 作者: 于维佳 潘羽 秦臻
• 来源期刊: 无线互联科技
• 关键词: 数字 集成电路 构成 系统 测试技术
• 年，卷（期）: 2015,（18）
• 所属期刊栏目: 软件透视
• 页码范围: 39-40
• 页数: 2页
• 字数: 3138字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂.目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用.相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求.在构成方面,需满足各个领域的要求.在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值.文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于维佳		9	8	2.0	2.0
2	潘羽		3	1	1.0	1.0
3	秦臻		3	4	1.0	2.0