基于EMD-SVM的光学元件中频误差识别

• 作者: 吴睿
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: 光学元件 中频误差识别 经验模态分解 支持向量机
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 实验技术与装置
• 页码范围: 22-25
• 分类号: TN91
• 语种: 中文
• DOI: 10.14016/j.cnki.jgzz.2016.02.022

摘要

为了提高光学元件中频误差的识别精度,提出一种经验模态分解和支持向量机的光学元件中频误差识别模型(EMD-SVM).首先采用经验模态分解法对光学元件表面的原始误差信呈进行分解,得到一组固有模态函数;然后采用固有模态函数和残差之和构建特征子集,并采用支持向量机建立光学元件中频误差识别模型;最后对模型性能进行了验证性测试.实验结果表明,EMD-SVM可以准确识别分布于光学元件表面的中频误差,提高了中频误差辨识的精度,可以满足光学元件质量检测的识别精度要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴睿		5	1	1.0	1.0