基于数学形态学和改进Otsu的单板缺陷检测

• 作者: 刘学哲 戴天虹 胡雪晶 顾昕岑
• 来源期刊: 沈阳工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 数学形态学 多结构元素 灰度图像 缺陷检测 单板缺陷 边缘提取 缺陷定位 彩色空间
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 信息科学与工程
• 页码范围: 674-679
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.9
• 字数: 4378字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7688/j.issn.1000-1646.2016.06.14

摘要

在经典检测算子中,针对单板灰度图像的缺陷检测存在缺陷边缘检测不清晰甚至出现伪边缘的问题,提出了一种Otsu改进算法与数学形态学相结合的单板缺陷检测算法.在HSI彩色空间中,对利用数学形态学滤波后的H、S、J分量采用本文算法进行分别处理,并将三分量的检测结果进行叠加.结果表明,该算法能够准确检测出单板的一个或多个缺陷边缘.与经典边缘检测算子的检测结果对比可知,该算法无论对于缺陷的定位还是边缘的提取均优于其他方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴天虹	东北林业大学机电工程学院	54	523	13.0	21.0
2	顾昕岑	东北林业大学机电工程学院	2	6	2.0	2.0
3	刘学哲	东北林业大学机电工程学院	3	6	2.0	2.0
4	胡雪晶	东北林业大学机电工程学院	1	2	1.0	1.0