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摘要:
介绍了通过 TMS320F2812对 NAND FLASH 芯片进行控制的一种方式,并以 K9K8G08U0B 为例,通过 C 语言对其进行功能实现,针对 NAND FLASH 本身的结构特性导致操作复杂并存在固有坏块等特点,提出一种对 NAND FLASH 进行读写操作,擦除操作,坏块检测处理操作等主要操作的方法。该方法已经应用于实际项目中,经检验可以有效避免坏块影响,对 NAND FLASH 的读写问题可以提供基础和一定支持。
内容分析
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文献信息
篇名 基于 DSP 的 NAND FLASH 芯片控制实现
来源期刊 哈尔滨商业大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 存储介质 TMS320F2812 NAND FLASH C 语言 坏块检测
年,卷(期) 2016,(5) 所属期刊栏目 计算机与信息工程
研究方向 页码范围 563-567
页数 5页 分类号 TN273
字数 1953字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李宝龙 哈尔滨工程大学信息与通信工程学院 2 4 1.0 2.0
2 王培人 哈尔滨工程大学信息与通信工程学院 1 1 1.0 1.0
传播情况
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2019(1)
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研究主题发展历程
节点文献
存储介质
TMS320F2812
NAND FLASH
C 语言
坏块检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
哈尔滨商业大学学报(自然科学版)
双月刊
1672-0946
23-1497/N
大16开
哈尔滨市道里区通达街138号
1980
chi
出版文献量(篇)
3911
总下载数(次)
16
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