石英晶片外观缺陷自动分选控制技术研究

• 作者: 张洁 李东 王艳林
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: 石英晶片 外观缺陷 控制技术 ARM处理器 自动分选
• 年，卷（期）: 2016,（19）
• 所属期刊栏目: 测量与控制
• 页码范围: 125-127
• 页数: 3页
• 分类号: TN98
• 字数: 3150字
• 语种: 中文

摘要

石英晶片外观缺陷自动分选系统使用ARM处理器作为主控制器，通过控制步进电机来实现对机械臂、料盘和出料桶的控制。采用ARM与PC机相结合的方式对石英晶片进行定位和分选，ARM控制器与PC机之间采用USB总线接口方式进行数据传输，显著提高了运行速度。经验证，本课题实现了对石英晶片自动分选设备的精确控制，其研究成果对于推动我国石英晶片自动分选设备的国产化具有重要的意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李东	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	55	144	7.0	8.0
2	王艳林	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	32	89	6.0	7.0
3	张洁	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	2	24	1.0	2.0