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元器件引脚去氧化工艺研究
元器件引脚去氧化工艺研究
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摘要：
介绍了常用的元器件引脚去氧化的方法,针对不同元器件引脚去氧化方法进行工艺试验,对比试验结果,得出各种元器件引脚去氧化方法的最佳工艺参数和适用特点。对电子装联企业元器件引脚去氧化工艺控制有指导作用。
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文献信息
| 篇名 | 元器件引脚去氧化工艺研究 | ||
| 来源期刊 | 电脑知识与技术：学术交流 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 元器件 引脚 去氧化 | ||
| 年，卷（期） | 2016,（1X） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 265-267 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | TN605 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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元器件
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期刊影响力
电脑知识与技术：学术版
主办单位：
时代出版传媒股份有限公司
中国计算机函授学院
出版周期：
旬刊
ISSN：
1009-3044
CN：
34-1205/TP
开本：
出版地：
安徽合肥市濉溪路333号
邮发代号：
26-188
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
41621
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