纳米器件质子在轨单粒子翻转率预计方法

• 作者: 于庆奎 唐民 孙毅 李铮 罗磊 魏志超
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 辐射效应 纳米器件 质子 重离子 单粒子翻转
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 微电子、微系统与物理电子学
• 页码范围: 145-147,158
• 页数: 4页
• 分类号: TN99|O572.11
• 字数: 2287字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201701.0145

摘要

研究了纳米器件在空间轨道中质子引起单粒子翻转(SEU)率的预计方法.以65 nmSRAM为样品,利用加速器进行了质子和重离子单粒子翻转试验,分别基于质子试验数据和重离子试验数据,预计了空间轨道中质子引起的单粒子翻转率.结果表明,用重离子试验数据预计的质子单粒子翻转率比用质子试验数据预计的低1.5个数量级.研究认为,为了评估纳米器件单粒子翻转敏感性,需进行质子单粒子翻转试验,并基于质子试验数据进行在轨质子翻转率预计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏志超	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	3	9	2.0	3.0
2	唐民	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	14	65	5.0	7.0
3	于庆奎	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	14	65	5.0	7.0
4	孙毅	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	8	21	2.0	4.0
5	罗磊	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	6	10	2.0	3.0
6	李铮	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	1	1	1.0	1.0