数字太敏 SoC 的抗 SEU 加固设计

• 作者: 付方发 肖立伊 赵昌兵
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 数字太敏 AoC AEU 故障注入 FPGA
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 页码范围: 1-5,11
• 页数: 6页
• 分类号: TN386
• 语种: 中文

摘要

针对航天应用中数字式太阳敏感器高可靠性的要求，对基于 Leon3处理器平台的数字式太阳敏感器 AoC在 RTL 级进行抗 AEU 加固设计。出于加固后整个系统速度和面积的考虑，本文针对 AoC 中不同部分采取不同的加固方法，综合使用了三模冗余、EDAC（Error Detection And Correction）电路、CPU 流水线重启和 Cache 强制不命中等容错方法。使用故障注入的方法测试寄存器文件加固后系统的软错误敏感性，对寄存器加固效果进行评估。并在 FPGA 上进行原型实现，对比加固前后的速度及开销情况。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖立伊	哈尔滨工业大学微电子中心	39	247	9.0	13.0
2	付方发	哈尔滨工业大学微电子中心	18	70	4.0	7.0
3	赵昌兵	哈尔滨工业大学微电子中心	1	3	1.0	1.0