基于掩模图像的磁环表面缺陷提取研究

• 作者: 张之祥 李俊峰 沈军民
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 工学
• 关键词: 掩模图像 表面缺陷 磁环 边缘检测
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 测量·检测
• 页码范围: 732-741
• 页数: 10页
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文
• DOI: 10.16136/j.joel.2017.07.0429

摘要

磁环表面缺陷图像具有对比度低、纹理背景复杂、缺陷种类多和亮度不均匀等特点,提出了一种基于掩模图像的磁环表面缺陷提取方法.首先,通过分析磁环表面图像中不同缺陷区域与正常区域的灰度差别,将磁环表面缺陷划分为两类,第1类为缺陷灰度值与正常区域差别大易分割,第2类为缺陷灰度值与正常区域灰度值差别小不易分割;其次,根据两类表面缺陷的成像特点以及与背景的关系,利用掩模技术分别设计了相应的缺陷提取方法;最后,在不同的光照、规格、缺陷类型及大小等方面,利用开发的样机进行了大量的在线实验.实验结果表明,本文缺陷提取算法稳定性好,鲁棒性强,能够准确、快速地提取出磁环表面图像各区域的缺陷,表面缺陷检测的准确率为95.3％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李俊峰		41	497	8.0	22.0
2	沈军民		20	78	6.0	8.0
3	张之祥		3	0	0.0	0.0