BGA焊点空洞缺陷的数字形态学检测

• 作者: 张俊生 王军 王明泉 王玉 郭晋秦
• 来源期刊: 测试科学与仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 球阵列封装(BGA) 空洞缺陷 X-射线 Otsu算法 数学形态学
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 页码范围: 199-204
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 505字
• 语种: 英文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-8042.2017.02.014

摘要

空洞缺陷是BGA焊接缺陷中比较常见的一种, 主要由回流焊时产生的气体没有及时排出而导致. X射线无损检测技术可以使空洞缺陷在焊球图像上显示为白色区域供技术人员查看, 但在噪声、不均匀照射、存在与缺陷类似目标的干扰下如何准确地自动提取缺陷一直是个难题. 提出使用Otsu算法分割焊球, 使用数学形态学中的开闭运算、 顶帽变换提取空洞缺陷的技术方案, 实现每个焊点空洞缺陷的准确提取和自动分析. 实验结果表明, 提出的技术方案鲁棒性强, 可应用于BGA焊点的空洞缺陷检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王明泉	中北大学信息与通信工程学院	113	511	10.0	16.0
2	王军	中北大学材料科学与工程学院	27	123	6.0	10.0
3	郭晋秦	太原工业学院电子工程系	21	56	5.0	6.0
4	王玉	中北大学信息与通信工程学院	25	75	5.0	7.0
5	张俊生	太原工业学院电子工程系	22	47	5.0	6.0