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基于Cadence Palladium Z1的图形芯片功能验证平台
基于Cadence Palladium Z1的图形芯片功能验证平台
作者:
牛一心
肖德宇
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
计算机图形芯片
GPU
验证方法学
仿真器
通用测试平台
回归测试
摘要:
在集成电路设计过程中,验证的工作量占到所有工作量的70%.大型的计算机图形处理芯片的功能验证,测试周期很长,覆盖率要求高,对于验证工程师提出了比较高的挑战.基于Cadence最新一代企业级CPU并行计算仿真器(Palladium Z1),提出了一种各平台通用,高效,流程简洁并且覆盖率较高的测试平台.该方法涵盖了测试指令集设计,GPU测试的原理分析.并给出了在Cadence Z1平台上,测试向量在测试平台上的运行过程和回归测试的结果.
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文献信息
篇名
基于Cadence Palladium Z1的图形芯片功能验证平台
来源期刊
集成电路应用
学科
工学
关键词
计算机图形芯片
GPU
验证方法学
仿真器
通用测试平台
回归测试
年,卷(期)
2017,(6)
所属期刊栏目
工艺与制造
研究方向
页码范围
64-68
页数
5页
分类号
TN407
字数
3041字
语种
中文
DOI
10.19339/j.issn.1674-2583.2017.06.015
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
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肖德宇
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研究主题发展历程
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GPU
验证方法学
仿真器
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研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
主办单位:
上海贝岭股份有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-2583
CN:
31-1325/TN
开本:
16开
出版地:
上海宜山路810号
邮发代号:
创刊时间:
1984
语种:
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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