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摘要:
在集成电路设计过程中,验证的工作量占到所有工作量的70%.大型的计算机图形处理芯片的功能验证,测试周期很长,覆盖率要求高,对于验证工程师提出了比较高的挑战.基于Cadence最新一代企业级CPU并行计算仿真器(Palladium Z1),提出了一种各平台通用,高效,流程简洁并且覆盖率较高的测试平台.该方法涵盖了测试指令集设计,GPU测试的原理分析.并给出了在Cadence Z1平台上,测试向量在测试平台上的运行过程和回归测试的结果.
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文献信息
篇名 基于Cadence Palladium Z1的图形芯片功能验证平台
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 计算机图形芯片 GPU 验证方法学 仿真器 通用测试平台 回归测试
年,卷(期) 2017,(6) 所属期刊栏目 工艺与制造
研究方向 页码范围 64-68
页数 5页 分类号 TN407
字数 3041字 语种 中文
DOI 10.19339/j.issn.1674-2583.2017.06.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 肖德宇 1 0 0.0 0.0
2 牛一心 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
计算机图形芯片
GPU
验证方法学
仿真器
通用测试平台
回归测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
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