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摘要:
OLED屏的混色缺陷表现为面板上低对比度、色彩不均一的区域,具有背景整体亮度不均、各个通道灰度变化都不明显等特点,因此用基于机器视觉的方法从图像中分割出来缺陷是非常困难的。借鉴检测Mura缺陷的算法,首先用正交多项式的曲面拟合方法去构造一张背景图,再用原图与背景图相减,得到疑似缺陷的区域,然后针对混色缺陷自身的特点,提出一种基于面板像素周期性排布的检测方法,最后通过设定的阈值筛选出真正的缺陷。实验结果表明,该方法对混色缺陷的检测比较有效,且算法简单,实时性高,易于实现。
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文献信息
篇名 基于机器视觉的OLED屏混色缺陷检测算法
来源期刊 现代计算机:中旬刊 学科 工学
关键词 缺陷检测 机器视觉 OLED 曲面拟合
年,卷(期) 2017,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 56-60
页数 5页 分类号 TP391.41
字数 语种
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 欧阳韬 上海交通大学电子信息与电气工程学院 2 1 1.0 1.0
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OLED
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研究起点
研究来源
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期刊影响力
现代计算机:中旬刊
月刊
1007-1423
44-1415/TP
广州市海珠区新港西路135号中山大学园B
46-205
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9067
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3
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