基于粒子群算法的数字微流控芯片在线测试路径优化

• 作者: 吕莹 莫玮 许川佩 黄喜军
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 数字微流控芯片 路径优化 粒子群算法
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: “片上系统测试与智能计算”专题
• 页码范围: 1192-1199
• 页数: 8页
• 分类号: TP306
• 字数: 5629字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.2017.08.005

摘要

数字微流控生物芯片的稳定性和安全性在生化实验中具有很高的要求,为保证实验结果的准确,需要对芯片进行检测.通过分析芯片结构、实验液滴的路径,提出一种基于粒子群算法的针对数字微流控芯片灾难性故障在线测试路径优化方案.通过自适应调整算法惯性权值,设置算法的收敛速度因子和解的聚集程度因子,将收敛速度和局部解聚集程度可视化改进算法.增加液滴移动序列的交换机制,在芯片的约束条件下规划测试液滴的移动路径,从而缩短测试路径长度.仿真实验选择15×15阵列模型、7×11阵列模型、7×7阵列模型进行仿真实验,结果表明,该方案完成了对芯片的测试,提高了算法收敛速度,并有效缩短了测试路径,提高测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	124	676	13.0	19.0
3	莫玮	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	40	255	9.0	14.0
5	黄喜军	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	10	31	4.0	5.0
9	吕莹	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	9	1.0	2.0