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摘要:
根据集成电路晶圆的不同用途,分析了晶圆减薄后残留的污染物对后续工艺的影响,介绍了晶圆减薄机内部集成的清洗系统,并根据清洗目标,提供了一套完整的清洗方案.
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文献信息
篇名 清洗系统在晶圆减薄后的应用
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 晶圆 减薄后 清洗系统
年,卷(期) 2018,(1) 所属期刊栏目 先进封装技术与设备
研究方向 页码范围 45-47,56
页数 4页 分类号 TN305.97
字数 1642字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2018.01.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘玉倩 中国电子科技集团公司第四十五研究所 21 25 4.0 4.0
2 高津平 中国电子科技集团公司第四十五研究所 8 1 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
晶圆
减薄后
清洗系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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10002
论文1v1指导