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摘要:
从銲点强度之大量数据看来铜基地当然比镍基地好得很多,总体强度看来,电子商品改朝换代的生命期愈来愈短也愈来愈快,早坏晚坏似乎也就不那么要命了。
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OSP
ENIG
时效
IMC形貌
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焊点强度
坑裂
正交试验设计
等温时效对SnAgCu焊点界面组织及剪切强度的影响
SnAgCu无铅焊点
时效
界面IMC
剪切强度
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 表面处理皮膜与焊点强度(2)——铜基地的种种(下)
来源期刊 印制电路资讯 学科 工学
关键词 焊点强度 表面处理 铜基 皮膜 电子商品 生命期 镍基
年,卷(期) 2018,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 81-88
页数 8页 分类号 TG178
字数 语种
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
焊点强度
表面处理
铜基
皮膜
电子商品
生命期
镍基
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
印制电路资讯
双月刊
2070-8467
广东省深圳市南山区南山大道1088号南园
出版文献量(篇)
7384
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15
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