基于Arrhenius模型的星载电子产品加速寿命试验技术

• 作者: 尚山 张庆君 王向晖 王文平 田巍 董杰
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: "高分三号"卫星 数据处理单元 加速寿命试验 Arrhenius模型 可靠性评估
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 技术实践
• 页码范围: 247-251
• 页数: 5页
• 分类号: V416.5
• 字数: 4088字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2018.03.008

摘要

为满足"高分三号"卫星8年长寿命在轨数据处理需求,须开展针对数据处理单元(DPU)的可靠性设计验证.针对星载DPU,采用基于阿伦尼斯(Arrhenius)模型的加速因子估计方法进行高温加速寿命试验方案设计与分析,并给出故障判定及处理准则.8年加速寿命试验结果验证了DPU产品各项功能和性能满足技术指标.加速寿命试验技术能够在较短的时间内用较低的成本快速估计星载电子产品的可靠性,在航天产品设计中具有广阔的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尚山		1	2	1.0	1.0
2	田巍		1	2	1.0	1.0