TFT-LCD工艺中角落白Mura的成因机理研究与改善

• 作者: 侯德智 吴飞 周皇 宣津 王绍华 陈超 陈辉
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 角落白Mura 液晶 边框胶
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 583-589
• 页数: 7页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 2807字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20183307.0583

摘要

在新产品导入过程中会突发各种Mura类不良.本文为解决TV机种导人中出现的一种原因未知的角落白Mura,首先进行了大量的排查和推理,初步判定异常来源于成盒工艺(Cell)段,利用气相色谱(GC)、高效液相色谱(HPLC)设备测试并对比了角落白Mura区域与正常区域的液晶纯度、液晶组份和框胶溶出的差异,最后探讨了其形成的机理.结果表明角落白Mura区域液晶组份发生较大变动,液晶组份挥发是角落白Mura产生的主因.通过优化贴合时的真空抽气时间、真空保持时间、液晶滴下点数、液晶与边框胶距离等一系列的改善措施,使产品的角落白Mura发生率从16.59％降到了0.001％以下管控范围.实验有效解决了角落白Mura异常并为今后类似Mura类不良的对策提供了思路,同时提升了公司的效益和竞争力.