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与非型快闪存储器可靠性评价方法分析
与非型快闪存储器可靠性评价方法分析
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摘要：
针对与非型快闪存储器 (NAND FLASH) 的耐久、数据保持、编程干扰、读干扰等可靠性指标, 分析当前可靠性评价中面临的困扰及国内外现有研究基础;根据其失效机理, 研究提出各项指标的评价方法, 以及试验应力的选取思路.
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研究主题发展历程
节点文献
与非型快闪存储器
耐久
数据保持
干扰
评价
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
信息技术与标准化
主办单位：
中国电子技术标准化研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1671-539X
CN：
11-4753/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市亦庄经济技术开发区同济南路8号
邮发代号：
82-452
创刊时间：
1959
语种：
chi
出版文献量（篇）
4638
总下载数（次）
23
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