功率模块引线键合界面温度循环下的寿命预测

• 作者: 刘勇 梁利华 许杨剑 郭源齐 高涛
• 来源期刊: 机电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 温度循环 引线键合 寿命预测 循环内聚力模型
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 页码范围: 73-78
• 页数: 6页
• 分类号: TM13|TN406
• 字数: 4614字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4551.2018.01.014

摘要

针对功率模块引线键合部位在温度循环作用下的疲劳失效问题,对功率模块在温度循环作用下的疲劳寿命进行了研究,利用温度循环试验箱对3种不同封装材料的功率模块进行了温度循环实验.通过数值模拟,结合子模型技术,确定了引线键合的危险部位;并根据Coffin-Manson疲劳寿命预测理论,对上述引线键合界面进行了寿命预测.同时,基于内聚力模型和损伤演化理论提出了一套寿命预测方法,利用ABAQUS软件的用户自定义程序接口UEL,编制了相应的程序,对键合界面的疲劳寿命进行了预测.研究结果表明:两种寿命预测方法均具有一定的适应性,利用循环内聚力模型模拟能够得到与实验更吻合的结果,并且能再现键合界面的失效过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高涛		14	234	4.0	14.0
2	梁利华	浙江工业大学机械工程学院	64	347	12.0	15.0
3	许杨剑	浙江工业大学机械工程学院	24	144	7.0	11.0
4	刘勇	浙江工业大学机械工程学院	34	133	7.0	10.0
5	郭源齐	浙江工业大学机械工程学院	2	3	1.0	1.0