刍议可靠性测试方法在电子产品中的应用

• 作者: 吴炜
• 来源期刊: 信息技术与信息化
• 关键词: 电子电路 耐久性 加速老化
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 方案与应用
• 页码范围: 27-28,30
• 页数: 3页
• 字数: 3917字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9528.2018.05.005

摘要

当今中国经济高速发展,GDP不断增长已经排到了世界第二位,这与中国大力发展制造业相关,中国的制造业水平已经排在世界先进国家的行列,在制造业中以电子行业为代表的高新技术产业发展尤为迅速,创造了一个又一个奇迹,深圳的速度举世瞩目,世界五百强企业几乎全部都在我国建厂,苹果,三星,华为,小米,步步高等电子产品几乎都在中国制造,中国已经成为名副其实的电子产品大国.当前的电子产品其寿命与可靠性越来越受到人们的关注,本文从可靠性测试的重要性出发,着重介绍电子产品可靠性测试方法及应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴炜		5	5	1.0	2.0