X射线光电子能谱分析(XPS)表征技术研究及其应用

• 作者: 盛道鹏 陈兰花
• 来源期刊: 教育现代化
• 关键词: X射线光电子能谱 Se(IV) 表面分析技术
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 教育信息技术
• 页码范围: 180-182,192
• 页数: 4页
• 字数: 2198字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16541/j.cnki.2095-8420.2018.01.064

摘要

X射线光电子能谱分析(XPS)技术是一种应用广泛的表面分析技术.本文具体介绍了XPS技术的发展历史、基本原理和应用范围等,同时介绍了谱图分析相关知识,且讨论了XPS技术在矿物吸附Se研究中的应用,用具体的实例说明了XPS的应用价值及研究方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈兰花		3	24	2.0	3.0
2	盛道鹏		3	24	2.0	3.0