温度和频率对互连线信号完整性的影响

• 作者: 刘乃安 李晓辉 王振源 陈付龙 韦娟 魏建军
• 来源期刊: 哈尔滨工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 温度 频率 趋肤效应 延迟 串扰 信号完整性 互连线 阻性负载 容性负载
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 页码范围: 834-838
• 页数: 5页
• 分类号: TN41
• 字数: 3125字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11990/jheu.201711080

摘要

针对VLSI中的互连线信号完整性问题,研究温度和频率对电阻、电感和电容的影响.在温度和频率的作用下,采用多节RLC模型,分别探讨温度和频率对互连线电学特性的影响,研究互连线的信号完整性问题.结果表明:在温度和频率的双重影响下,对温度和频率比较敏感的第5层互连线,在信号上升时间为0.05 ns,负载是0.1 pF电容时,信号的延迟比没有考虑温度和频率影响时的延迟多121 ps;当负载是电阻时,延迟变化不大.温度对串扰的影响较小,频率对串扰的影响较大,在温度和频率的双重影响下,阻性负载时远端串扰变大,近端串扰变小,而容性负载时近端串扰和远端串扰都变小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈付龙	安徽师范大学数学计算机科学学院	84	340	10.0	14.0
2	刘乃安	西安电子科技大学通信工程学院	122	744	12.0	23.0
3	李晓辉	西安电子科技大学通信工程学院	56	241	9.0	11.0
4	韦娟	西安电子科技大学通信工程学院	39	126	6.0	9.0
5	魏建军	西安电子科技大学通信工程学院	10	19	3.0	3.0
6	王振源	西安电子科技大学通信工程学院	1	2	1.0	1.0