塑封器件分层检测不合格原因探讨

• 作者: 王伯淳 王瑞崧 马清桃
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 塑封器件 缺陷判断 材料吸湿
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 13-16,48
• 页数: 5页
• 分类号: TN405
• 字数: 3068字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1004

摘要

在塑封半导体器件内部裂纹、空洞和分层缺陷的检测中,同样的样品不同单位、不同试验人员总会出现一些器件检测结果不一致的情况.为研究导致检测结果不一致的原因,通过对超声扫描检测技术原理和适用判据标准的阐述,对不同设备的比对验证以及对塑封器件材料的吸湿影响试验和分析,探讨了塑封器件分层检测不合格和不一致的原因,为同行业者提供借鉴和参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马清桃	中国航天科工集团第四研究院元器件可靠性分中心	2	0	0.0	0.0
2	王伯淳	中国航天科工集团第四研究院元器件可靠性分中心	2	0	0.0	0.0
3	王瑞崧	中国航天科工集团第四研究院元器件可靠性分中心	2	0	0.0	0.0