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摘要:
分析了影响硅基板盲孔制备及填镀铜质量的因素,进行了硅基板盲孔制备、绝缘层/阻挡层/种子层淀积、硅孔填镀铜等试验,通过对硅基盲孔填镀前处理、盲孔填镀铜等关键技术进行分析,得出加工过程中应该控制的要点和注意事项.
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内容分析
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文献信息
篇名 硅基板盲孔制备及填镀铜工艺研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 硅通孔 填镀铜 绝缘层 阻挡层 种子层
年,卷(期) 2019,(12) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 7-11
页数 5页 分类号 TN305
字数 4084字 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1202
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 严英占 中国电子科技集团公司第五十四研究所 15 35 4.0 5.0
2 周拥华 中国电子科技集团公司第五十四研究所 5 1 1.0 1.0
3 刘晓兰 4 13 2.0 3.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
硅通孔
填镀铜
绝缘层
阻挡层
种子层
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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