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基于PCMD健康指数的QFP封装互联结构退化研究
基于PCMD健康指数的QFP封装互联结构退化研究
作者:
张钰林
景博
李振刚
李龙腾
胡家兴
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
QFP互联结构
退化失效
特征融合
健康指数
微观分析
有限元仿真
摘要:
针对QFP封装互联结构在复杂环境应力下退化特征不明显、缺乏规律分析及验证的问题,开展了QFP结构退化实验.利用基于动态主成分分析和马氏距离的健康指数方法,实现了时域、时频域的特征融合和全寿命周期内的退化表征,发现该方法表征退化起始时刻的精度高达90%以上,并发现了退化速率曲线存在相近拐点并在拐点后出现明显差异的规律.结合扫描电子显微镜微观分析和有限元仿真,验证了不同互联结构在裂纹萌生与扩展处的应变分布存在差异是出现该退化规律的主要原因.
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篇名
基于PCMD健康指数的QFP封装互联结构退化研究
来源期刊
电子测量与仪器学报
学科
工学
关键词
QFP互联结构
退化失效
特征融合
健康指数
微观分析
有限元仿真
年,卷(期)
2019,(12)
所属期刊栏目
2019中国自动测试大会
研究方向
页码范围
100-108
页数
9页
分类号
TN406
字数
语种
中文
DOI
10.13382/j.jemi.B1902542
五维指标
传播情况
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引文网络
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研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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电子测量与仪器学报
主办单位:
中国电子学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7105
CN:
11-2488/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市东城区北河沿大街79号
邮发代号:
80-403
创刊时间:
1987
语种:
chi
出版文献量(篇)
4663
总下载数(次)
23
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