基于威布尔分布的某电子部件贮存可靠性寿命评估

• 作者: 陈愿
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 关键词: 定时截尾 恒定应力 加速寿命试验 威布尔分布
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 信息技术
• 页码范围: 1-4,14
• 页数: 5页
• 字数: 2688字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19772/j.cnki.2096-4455.2019.1.001

摘要

针对电子高可靠性、长寿命的特点,提出了使用定时截尾恒定应力加速寿命试验方法来评估电子部件件在一定可靠度下的贮存寿命.建立威布尔分布加速寿命模型,采用极大似然法进行参数估计,得到模型未知参数的极大似然估计结果,最后外推得到正常温度下的贮存寿命.结果表明,在25℃下可靠度为0.995时,使用定时截尾恒定应力加速寿命试验方法评估电子部件的寿命约为17.26年,与该电子部件合格证明文件中标明的一般贮存时间15-20年相比,预测结果与实际情况基本相符,验证了使用定时截尾恒定应力加速寿命试验方法评估电子部件寿命的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈愿	中国电子科技集团公司第三十八研究所	2	3	1.0	1.0