基于数据挖掘技术的半导体测试管理系统的研究与设计

• 作者: 夏开峰
• 来源期刊: 信息与电脑
• 学科: 工学
• 关键词: 数据挖掘 半导体测试管理 Apriori算法
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 软件开发与应用
• 页码范围: 51-54,57
• 页数: 5页
• 分类号: TP311.13|TP315
• 语种: 中文

摘要

以笔者与无锡某电子企业共同参与测试项目的半导体良率测试管理系统为平台,研究数据挖掘技术中关联规则的Apriori算法.结合半导体领域知识,追踪制造过程中已发生问题的解决方式,将数据挖掘的方法与步骤进行大量资料筛选、推演与模式建构等过程,并协助工程人员处理问题,尽可能减少在庞大的资料中挖掘的难度,快速挖掘隐含的信息,找到与问题相关的关联信息,确保问题能在较短的时间内解决,防止产品损失扩大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏开峰		6	3	1.0	1.0