电子元器件失效分析及方法研究

• 作者: 曾小力
• 来源期刊: 中国设备工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 失效分析 方法
• 年，卷（期）: 2019,（16）
• 所属期刊栏目: 监测与诊断
• 页码范围: 83-84
• 页数: 2页
• 分类号: TN607
• 字数: 1666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0711.2019.16.044

摘要

电子元器件的质量以及运行效果对于电子设备的运行安全可靠性影响较大,针对电子元器件进行科学的失效分析能够有效提升电子元器件运行的可靠性,为电子系统运行提供保障.本文就电子元器件失效分析的主要原则和程序进行了分析,就其主要技术方法以及未来发展进行了探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾小力		1	1	1.0	1.0