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摘要:
从MEMS器件晶圆级测试过程中所需的特殊测试环境出发,简述了自动真空探针台的操作流程,介绍了设备的主要技术特点,并对该设备机械结构的特殊需求及后续开发方案进行了详细描述.
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晶圆
螺旋定位
第一点
特殊点
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热真空
试验流程
自动控制
基于分区独立温度控制的探针台卡盘温度均匀性研究
探针台
有限元方法
均匀性
分区控制
半导体
温度测试
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 自动真空探针台技术研究
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 真空探针 真空腔体 承片台 探卡
年,卷(期) 2020,(3) 所属期刊栏目 电子专用设备研究
研究方向 页码范围 66-70
页数 5页 分类号 TN307
字数 3287字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吕磊 中国电子科技集团公司第四十五研究所 13 20 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
真空探针
真空腔体
承片台
探卡
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
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