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摘要:
环形抛光是大口径平面光学材料加工的首选方式,特别是在大口径平面光学元件的超精密加工中占有重要地位.抛光盘表面形状是影响元件面形精度的直接因素.为了研究小工具对抛光盘表面材料的去除特性,首先需要准确测得抛光盘的表面形状.采用激光位移传感器采集抛光盘表面螺旋样点的高度,针对实验检测误差进行分析并标定,最终计算得到抛光盘表面的实际形状.借鉴数控小工具抛光方法,建立小工具修正下抛光盘的材料去除模型,通过仿真计算得到了在小工具修正范围内抛光盘的材料去除函数,分析了抛光盘的材料去除特性.最后通过小工具修正实验验证了仿真结果的正确性,为抛光盘的形状修正提供理论依据.
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文献信息
篇名 小工具修正下抛光盘材料的去除特性
来源期刊 中国激光 学科 工学
关键词 光学制造 环形抛光 抛光盘形状检测 小工具修正 去除函数
年,卷(期) 2020,(4) 所属期刊栏目 材料与薄膜
研究方向 页码范围 155-161
页数 7页 分类号 TG580.692
字数 语种 中文
DOI 10.3788/CJL202047.0403001
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