CdZnTe晶体缺陷的交流阻抗谱研究

• 作者: 刘雨从 沈悦 牟浩 王丁 王林军 谢经辉
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 碲锌镉 晶体缺陷 激活能 交流阻抗谱
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 页码范围: 11-15
• 页数: 5页
• 分类号: TN304.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2020.11.003

摘要

宽禁带II-VI族半导体化合物碲锌镉(CdZnTe)晶体是制备室温X和γ射线探测器的理想半导体材料,但其晶体缺陷特性对探测器性能有重要的影响,一直是人们研究的热点与难点.文中采用垂直布里奇曼法生长了CdZnTe晶锭,XRD测试表明晶片呈现(111)取向.通过测试样品不同温度下的交流阻抗谱,研究了晶体缺陷的阻抗特性.结果表明,制备的CdZnTe单晶具有负温度系数效应,化学法制备的Au电极与晶片之间形成了欧姆接触,没有出现电极界面和晶界对阻抗谱曲线影响,晶粒导电机制占主导.利用Arrhenius方程拟合曲线获得晶体缺陷的激活能为0.48 eV,表明晶体缺陷以Cd空位为主.