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片状电阻失效的案例及分析方法
片状电阻失效的案例及分析方法
作者:
冯勇雄
王小龙
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
片状电阻
失效
硫化
银离子迁移
过载
摘要:
本文基于作者工作中所碰到的多种片状电阻失效案例,从电阻的工艺、材料、结构以及使用环境,找出了片状电阻失效的几种常见原因,并阐述了在片状电阻生产、应用等环节如何调查分析和改善的对策.
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片状电阻失效的案例及分析方法
来源期刊
消费电子
学科
关键词
片状电阻
失效
硫化
银离子迁移
过载
年,卷(期)
2020,(5)
所属期刊栏目
电子与电力
研究方向
页码范围
17-18,44
页数
3页
分类号
字数
语种
中文
DOI
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冯勇雄
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片状电阻
失效
硫化
银离子迁移
过载
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研究来源
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研究去脉
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期刊影响力
消费电子
主办单位:
中国电子商会
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-7712
CN:
11-5879/TM
开本:
16开
出版地:
北京市
邮发代号:
82-224
创刊时间:
2003
语种:
chi
出版文献量(篇)
15286
总下载数(次)
35
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