基于V93k ATE的SoC芯片输出不稳定的测试方法

• 作者: 刘相伟 唐昱 唐丽 刘安康
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 集成电路测试 系统级芯片 波形转换跟踪 时序差异
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造|Process and Fabrication
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.05.014

摘要

分析表明,大多数SoC芯片是基于锁相环倍频外部时钟或内部时钟来运行的,而芯片之间的加工工艺存在细微差异,导致各个芯片工作可能的存在时序差异.即使同一颗芯片在不同的电压和温度的条件下,其工作时序也存在一定差异.针对芯片波形时序不稳定的情况,介绍一种基于V93k ATE的波形转换跟踪的测试方法.