国外电子元器件可靠性数据及其计算模型分析

• 作者: 于迪 徐洁芬 郑丽香 雷庭
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件 可靠性数据 计算模型
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与材料
• 页码范围: 9-11
• 页数: 3页
• 分类号: TN601
• 语种: 中文
• DOI: 10.19772/j.cnki.2096-4455.2020.6.004

摘要

针对当前国内元器件可靠性数据不齐全的现状,对国外主流元器件制造商TI、AD以及Xilinx进行研究,分析其发布的元器件相关可靠性数据类型、检索模式及计算模型,同时对国外典型类型产品可靠性水平进行分析,为国产元器件可靠性数据建设提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于迪		16	12	2.0	3.0
2	郑丽香		17	69	4.0	8.0
3	徐洁芬		3	0	0.0	0.0
4	雷庭		7	0	0.0	0.0