印制电路板加速寿命试验方法综述

• 作者: 刘立国 张永华 高蕊
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: 印制电路板 加速模型 加速因子 试验方法
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 检测与可靠性
• 页码范围: 33-38
• 页数: 6页
• 分类号: TN41
• 语种: 中文

摘要

寿命试验是一种重要的可靠性试验,基于加速寿命试验方法和大数据分析的印制板可靠性评估技术,未来应用前景广大.文章综合阐述了可应用于印制板加速寿命试验的常用加速寿命试验模型、加速因子计算和加速寿命试验方法,希望能够为业内相关研究和应用者提供一定指导和帮助.