外延应力调控(111)取向La0.66Sr0.33MnO3外延薄膜的物理性质

• 作者: 祁明群 吴真平
• 来源期刊: 信息记录材料
• 学科: 工学
• 关键词: 锰氧化物 电阻率 磁阻 居里温度 矫顽场
• 年，卷（期）: 2022,（2）
• 所属期刊栏目: 材料:实验与研究
• 页码范围: 18-19
• 页数: 2页
• 分类号: TQ17
• 语种: 中文

摘要

系统地研究了用脉冲激光沉积法(P L D)在(111)取向S r T i O3单晶衬底上外延生长L a0.66S r0.33M n O3薄膜的电学和磁阻性能.利用综合物性测量系统(PPMS)测量研究了薄膜导电性和相应物性随薄膜厚度的变化规律.磁化和电阻作为温度函数的测量结果表明,从铁磁状态到顺磁状态的转变温度与薄膜厚度直接相关.电阻率(ρ(T))的温度依赖性已经用理论公式进行了拟合.在3?T的外加磁场下,在200?K下测量了10?nm厚膜的34.5％的磁电阻.