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提高器件可靠性的密封设计
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文献信息
| 篇名 | 提高器件可靠性的密封设计 | ||
| 来源期刊 | 抗恶劣环境计算机 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 器件 可靠性 密封 设计 | ||
| 年，卷（期） | kelhjjsj_1993,（2） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 53-55 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | TP211.5 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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期刊影响力
抗恶劣环境计算机
主办单位：
华东计算技术研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
上海市800-209信箱
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
563
总下载数（次）
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