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摘要:
用分子束外延技术生长了InGaAs/GaAs异质结材料,并用HALL效应法和电化学C-V分布研究其特性.讨论了InGaAs/GaAs宜质结杨效应晶体管(HFET)的优越性.和GaAs MESFETS或HEMT相比,由于HFET没有Al组份,具有低温特性好,低噪声和高增益等特点.本文研究了具有InGaAs/GaAs双沟道和独特掺杂分布的低噪声高增益HFET.
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关键词热度
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文献信息
篇名 分子束外延生长InGaAs/GaAs异质结及其在独特场效应晶体管中的应用
来源期刊 电子器件 学科
关键词 InGaAs/GaAs异质结 分子束外延 异质结场效应晶体管 掺杂分布 沟道
年,卷(期) 2000,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 258-261
页数 4页 分类号
字数 690字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2000.04.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谢自力 11 34 4.0 5.0
2 邱凯 8 33 3.0 5.0
3 尹志军 11 40 4.0 6.0
4 方小华 3 16 1.0 3.0
5 王向武 11 24 2.0 4.0
6 陈堂胜 56 225 8.0 12.0
传播情况
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引文网络
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1991(1)
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研究主题发展历程
节点文献
InGaAs/GaAs异质结
分子束外延
异质结场效应晶体管
掺杂分布
沟道
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导