电路测试神经网络方法中求多个测试矢量

• 作者: 张光昭 潘中良
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 数字电路 测试生成 神经网络 进化算法
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 网络技术
• 页码范围: 25-28
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2000.03.006

摘要

文章研究在数字电路测试的神经网络方法中求给定故障对应的多个测试矢量的方法，首先提出了一种求多个测试矢量的遗传进化方法，然后提出了一种矢量扰动方法，通过这两者的结合使用，能获得被测电路较小的完备测试集，从而提高了电路测试神经网络方法的性能。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张光昭	中山大学电子系	72	546	12.0	20.0
2	潘中良	华南师范大学物理系	65	230	8.0	12.0