铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法

• 作者: 梁淑华 范志康
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 20-21,47
• 页数: 3页
• 分类号: TM2
• 字数: 1120字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2000.03.006

摘要

阐述了CuW系触头材料制备过程中容易产生的缺陷,对每一种缺陷产生的原因进行了详细的分析,并提出了相应的控制方法.实践表明,只要严格控制工艺参数,按照工艺流程操作,完全可以避免缺陷的产生,生产出性能优良的触头材料.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范志康		93	896	16.0	24.0
2	梁淑华		106	692	15.0	21.0