紫外脉冲激光淀积法制备Pb(Ta0.05Zr0.48Ti0.47)O3薄膜的铁电性质

• 作者: 刘治国 朱敏 殷江
• 来源期刊: 材料科学与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲激光淀积 铁电薄膜 疲劳特性
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 49-52
• 页数: 4页
• 分类号: TB43
• 字数: 2482字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2812.2000.04.011

摘要

用紫外脉冲激光淀积方法在Pt／TiO2／SiO2／Si(001)衬底上制备了La1-xSrxCoO3／Pb(Ta0.05Zr0.48Ti0.47)O3(PTZT)／La1-xSrxCoO3异质结构薄膜。发现底电极La0.25Sr0.75CoO3可以诱导PTZT薄膜沿(001)方向取向生长。在500kHz和5V的工作电压下铁电电容器La0.25Sr0.75CoO3/PTZT／La0.25Sr0.75CoO3经过5×1010次反转之后，仍保持其初始电极化的96％。此异质结构横截面的扫描电镜照片表明界面上没有明显的因化学反应导致的第二相存在。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷江	南京大学固体微结构物理国家重点实验室	9	81	2.0	9.0
2	刘治国	南京大学固体微结构物理国家重点实验室	18	114	4.0	10.0