可测试性设计中的优化问题及求解算法

• 作者: 温熙森 胡政 钱彦岭
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性 边界扫描 优化设计 图论
• 年，卷（期）: 2000,（11）
• 所属期刊栏目: 学术探讨
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 3154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2000.11.013

摘要

近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试性设计中的两种典型优化问题进行了数学描述,并构造了相应的可行求解算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡政	国防科技大学机械电子工程与仪器系	28	269	9.0	14.0
2	温熙森	国防科技大学机械电子工程与仪器系	96	1778	24.0	38.0
3	钱彦岭	国防科技大学机械电子工程与仪器系	37	299	10.0	16.0