作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
本文对陶封电路封装腔体内的自由粒子进行了研究分析,阐述了自由粒子的来源、对粒子数量的控制方法和途径并做了PIND试验.
推荐文章
封装腔体内氢气含量控制
气密封装
内部气氛
氢气含量
厚膜HIC金属封装腔内水汽的影响及控制
厚膜混合集成电路
腔内水汽含量
可靠性
陶瓷封装腔体内气体含量分析与控制
气密封装
内部气氛
氧气含量
二氧化碳含量
氦气含量
水汽含量
复杂几何结构腔体内冷水自然对流传热数值模拟
自然对流
密度极值
传热
几何结构
数值模拟
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 封装腔体内自由粒子的控制
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 封装腔体 自由粒子 工艺控制
年,卷(期) 2001,(2) 所属期刊栏目 封装技术
研究方向 页码范围 24-26
页数 3页 分类号 TN305.94
字数 2119字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2001.02.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 丁荣峥 无锡微电子科研中心三室 3 11 1.0 3.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (4)
二级引证文献  (0)
2001(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2019(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
封装腔体
自由粒子
工艺控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
论文1v1指导