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封装腔体内自由粒子的控制
封装腔体内自由粒子的控制
作者:
丁荣峥
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
封装腔体
自由粒子
工艺控制
摘要:
本文对陶封电路封装腔体内的自由粒子进行了研究分析,阐述了自由粒子的来源、对粒子数量的控制方法和途径并做了PIND试验.
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文献信息
篇名
封装腔体内自由粒子的控制
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
封装腔体
自由粒子
工艺控制
年,卷(期)
2001,(2)
所属期刊栏目
封装技术
研究方向
页码范围
24-26
页数
3页
分类号
TN305.94
字数
2119字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2001.02.007
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
丁荣峥
无锡微电子科研中心三室
3
11
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研究主题发展历程
节点文献
封装腔体
自由粒子
工艺控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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