Pb1-xGexTe薄膜的光学性质

• 作者: 张凤山 张素英 承焕生 李斌 江锦春 范滨
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 关键词: Pb1-xGexTe 薄膜 dn/dT
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 69-72
• 页数: 4页
• 字数: 2658字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2001.01.018

摘要

对PVD沉积Pb1-xGexTe薄膜研究发 现 Pb1-xGexTe是一种高性能的红外材料,在3～25μm光谱范围具有较好的 透光性能,室温下的折射率为4.8～5.6.薄膜的光学性质,包括透射率、色散关系以及折射率的 温度系数dn/dT,与材料中组分x、环境温度和薄膜的沉积工艺条件有密切关系 .适当地改变组分和工艺条件,可以使薄膜的折射率温度系数dn/dT从负变到零并转 为正,这对于制备高温度稳定性的红外光学薄膜器件具有重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李斌	中国科学院上海技术物理研究所	372	5610	37.0	58.0
2	承焕生	复旦大学现代物理研究所	42	485	14.0	20.0
3	张凤山	中国科学院上海技术物理研究所	36	251	8.0	14.0
4	张素英	中国科学院上海技术物理研究所	14	22	3.0	3.0
5	范滨	中国科学院上海技术物理研究所	5	49	3.0	5.0
6	江锦春	复旦大学现代物理研究所	2	5	1.0	2.0