Cd0.9Mn0.1Te晶体生长及其缺陷分析

• 作者: 介万奇 常永勤 谷智 郭喜平
• 来源期刊: 材料科学与工程
• 学科: 物理学
• 关键词: Cd1-xMnxTe Bridgman法 ACRT-B法 微裂纹 位错
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 页码范围: 14-19
• 页数: 6页
• 分类号: O78|O77
• 字数: 2137字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2812.2001.04.004

摘要

采用Bridgman法和ACRT-B法生长了两根Cd0.9Mn0.1Te晶锭(简称CMT-B和CMT-A).采用光学金相显微镜和扫描电镜研究了这两种方法生长的晶体中出现的各种缺陷,并分析了其形成机理.采用JEOL-733电子探针测定了两根晶锭中Mn的分布.对比CMT-B和CMT-A两根晶锭,发现ACRT所产生的对流可提高Cd0.9Mn0.1Te晶体的结晶质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	介万奇		272	1636	19.0	27.0
2	郭喜平		78	470	12.0	16.0
3	谷智		21	103	5.0	9.0
4	常永勤		6	6	1.0	2.0