基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析

• 作者: 彭应宁 王秀坛 蔡晨曦
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 信号处理 自检验 特征分析 故障安全设计
• 年，卷（期）: 2001,（9）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.7
• 字数: 2235字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2001.09.001

摘要

在现代电子系统的设计过程中,由于对系统的可靠性和可维护性要求越来越高,因此必须针对具体情况设计相应的内建自检(built-in self-testing,BIST)模块,从而保证系统能够进行准确的故障检测和故障定位与隔离.提出了一种基于两维压缩特征字分析的BIST方法,就其压缩原理和检测性能进行了详细分析.分析结果表明,通过时域和空域的两维压缩,可以用较短的特征字实现高故障覆盖率.该方法简单可靠,便于硬件实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭应宁	清华大学电子工程系	193	1937	21.0	34.0
2	王秀坛	清华大学电子工程系	45	473	13.0	20.0
3	蔡晨曦	清华大学电子工程系	3	21	3.0	3.0